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日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM SERIES
使用显微光谱法在微小区域内通过绝对反射率进行测量,可进行高精度膜厚度 光学常数分析。 可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度,例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间
日本Otsuka膜厚测量用多通道光谱仪MCPD系列
光谱仪(MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700) 提供丰富选配套件以及客制化光纤, 可依据安装现场需求评估设计,是一套可灵活架设于各种环境下的最佳即时测量系统
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