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功率器件动态参数测试系统DT10-华普通用
专业测试SiC及Si基IGBT、MOSFET动态时间参数特性,测试范围可达3500V 4000A -
Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪-华普通用
使用 4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪)加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪,提供同步电流电压 -
TSI POWERSIGHT固体激光器的激光多普勒测速仪LDV-华普通用
TSI的一维、二维或三维(1D,2D或3D)激光多普勒测速(LDV)系统,包含 新型的PowerSight固态激光器,绝对让您耳目一新。该款全新增强型系统整合了PowerSight模块,该模组由最新型固态激光器 -
日本Otsuka界达电位ELSZ-2000
此设备可测量浓度低的溶液~浓度高的溶液的ZETA电位?粒径及分子量。粒径测量范围(0 6nm~10μm),浓度范围(0 00001%~40%)。实测电气渗透流 -
日本Otsuka量子效率测量系统QE-2000/2100
瞬间测量绝对量子效率(绝对量子收率)。适用于粉体、溶液、固体(膜)、薄膜样品的测量。通过低迷光多通道分光检出器,大大减少了紫外区域的迷光。